- 产品型号 SN74LVTH18646APM
- 品牌 Texas Instruments
- RoHS 1
- 描述 IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- 分类 专业逻辑
-
PDF
库存:1805
技术细节
- 包装/箱 64-LQFP
- 安装类型 Surface Mount
- 位数 18
- 逻辑类型 ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
- 工作温度 -40°C ~ 85°C
- 电源电压 2.7V ~ 3.6V
- 供应商设备包 64-LQFP (10x10)