- 产品型号 SN74LVTH182512DGGR
- 品牌 Texas Instruments
- RoHS 1
- 描述 IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
- 分类 专业逻辑
-
PDF
库存:3036
技术细节
- 包装/箱 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
- 安装类型 Surface Mount
- 位数 18
- 逻辑类型 ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
- 工作温度 -40°C ~ 85°C
- 电源电压 2.7V ~ 3.6V
- 供应商设备包 64-TSSOP