- 产品型号 SN74ABT18640DLR
- 品牌 Texas Instruments
- RoHS 1
- 描述 IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
- 分类 专业逻辑
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库存:1500
技术细节
- 包装/箱 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
- 安装类型 Surface Mount
- 位数 18
- 逻辑类型 Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
- 工作温度 -40°C ~ 85°C
- 电源电压 4.5V ~ 5.5V
- 供应商设备包 56-SSOP
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IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
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